Circular Instrumente Științifice (Shanghai) Co., Ltd.
Acasă>Produse>Sistem de inspecție Leica DM3 XL pentru microelectronică și semiconductori
Informații despre firmă
  • Nivelul tranzacției
    Membru VIP
  • Contact
  • Telefon
  • Adresă
    Sala 1013, nr. 20, Lana 26, Hexin Road, Jiading District, Shanghai (Cl?direa de birou, nr. 5, Pia?a Wanda, Jiangqiao)
Contacteaza acum
Sistem de inspecție Leica DM3 XL pentru microelectronică și semiconductori
În industria microelectronicei și a semiconductorilor, viteza inspecției, controlului proceselor sau analizei defectelor și defecțiunilor este esenția
Detaliile produsului

Mai multe detalii pentru a lucra mai eficient

A vedea mai multe detalii înseamnă a lucra mai eficient. Pentru scanarea rapidă a componentelor mari de până la 6", DM3 XL oferă obiective macroscopice unice.

Cu o mărire de 0,7 ori, poate captura instantaneu câmpul de vedere de 35,7 mm – cu 30% mai spațios decât alte obiective de scanare obișnuite.

Sub obiectivele macroscopice, defectele nu sunt deformate:

  • Creșteți-vă rentabilitatea
  • Detectarea fiabilă a zonelor în care marginea sau centrul cipului sunt insuficient vizualizate
  • Detectarea grosimei membranei radiale inegale

LED-uri pentru toate metodele de observare a liniilor

DM3 XL utilizează iluminat cu LED pentru toate metodele de observare a liniilor. Iluminatul LED oferă o temperatură de culoare constantă și o imagine cu culori reale la toate nivelurile de luminozitate.

Imagini color reale la toate nivelurile de luminozitate

  • Reglementare liberă
  • Fără a înlocui becul – fără timp de oprire
  • Rezultate reproducibile

Datorită duratei de viață lungi a LED-urilor și consumului redus de energie, există, de asemenea, un potențial enorm de economisire a costurilor.

Optică "Maestru"

DM3 XL vă oferă performanțe optice superioare la prețuri accesibile.

  • Inspectați laterale, margini sau resturi cu iluminat oblique: vizualizați diverse forme prin iluminarea eșantioanelor din diferite unghiuri într-un mod simplu și eficient.
  • Detectați zgârieturi mici sau particule mici în straturile inferioare ale eșantionului cu ajutorul contrastului câmpului întunecat adânc.

Veți fi șocați de sensibilitatea și rezoluția semnificativ îmbunătățite.

Diferite eșantioane – Plugin-uri de suport variabil

Indiferent de tipul sau dimensiunea mostrei pe care doriți să o verificați, aveți la dispoziție o gamă largă de plug-in-uri pentru suport:

  • Dimensiuni: 150 mm x 150 mm
  • Plug-in pentru suport: Plug-in metalic, suport pentru chip sau suport pentru masca
  • Posiționarea rapidă sau precisă a suportului

Confort de lucru intuitiv

Asistenta la apertura codificata cu culori (CCDA) simplifica setările de baza pentru rezolutie, contrast si adâncime de teren, ajutand la creșterea vitezei de lucru și la minimizarea erorilor de operare.

Funcțiile intuitive vă ajută echipa să obțină cele mai bune rezultate mai rapid.

  • Datorită unor comenzi ușor de manipulat, utilizatorul poate continua să opereze microscopul cu mâinile în timp ce schimbă contrastul sau iluminatul, concentrându-se pe eșantion.
  • Controlor de lumină cu mâna dreaptă
  • Ajustarea microscopului în funcție de înălțimea variabilă cu oglindă ergonomică variabilă și buton de focalizare

~ Pentru mai multe detalii despre produs, vă rugăm să sunați la 021-80109380 ~

Cerere online
  • Contacte
  • Companie
  • Telefon
  • Email
  • WeChat
  • Codul de verificare
  • Conținut mesaj

Operaţiune reuşită!

Operaţiune reuşită!

Operaţiune reuşită!