Seria 378 - Microscopuri pentru testarea semiconductorilor-Furnizor global

Seria 378 - Caracteristicile microscopului FS-70 pentru detectarea semiconductorilor
Acest sistem optic a fost inițial dezvoltat pentru cel mai bine vândut model FS60 (mai târziu FS70).Este ideal ca microscop pentru măsurarea și detectarea dispozitivelor semiconductore.
FS70L suportă 3 tipuri de unde cu laser YAG (1064nm, 532nm, 355nm), FS70L4 suportă 2 lungimi de undă (532nm, 266nm), care pot fi utilizate pentru tăiere cu laser și tehnologii de film subțire în semiconductori și substraturi cu cristale lichide. Acest lucru extinde domeniul de utilizare al laserului. Cu toate acestea, utilizarea instrumentelor de măsurare Sanfeng nu este responsabilă pentru performanța și siguranța mâinilor laser ale microscopului. Vă recomandăm să verificați cu atenție atunci când achiziționați un emitător laser.
Funcțiile standard ale FS70Z sunt: câmpul vizual luminos, contrastul de interferență diferențială (DIC) și observația polarizării. FS70L şi FS70L4 nu suportă DIC. Utilizarea unui convertitor încorporat face operarea obiectivelor la distanțe lungi de lucru ușoară.
Design extrem de ușor de utilizat: FS70 folosește un sistem optic exact (în câmpul de vedere în aceeași direcție cu eșantionul) și reglează roțile cu un mâner de cauciuc.

Seria 378 - Parametrii performanței microscopului FS-70 pentru detectarea semiconductorilor

Modelul

FS-70

FS70-TH

FS70Z

FS70Z-TH

FS70L

FS70L-TH

FS70L4

JS70L4-TH

Numărul de marfă

378-184-1

378-184-3

378-185-1

378-185-3

378-186-1

378-186-3

378-187-1

378-187-3

Modele de bază scurtă

FS70-S

FS70-THS

FS70Z-S

FS70Z-THS

FS70L-S

FS70L-THS

FS70L4-S

FS70L4-THS

Numărul de marfă

378-184-2

378-184-4

378-185-2

378-185-4

378-186-2

378-186-4

378-187-2

378-187-4

Focalizare

Curs de 50 mm, distanță focală concentrică coarse (3,8 mm/rev) și fine-tuned (0,1 mm/rev) roți de mână (stânga, dreapta 0)

Imagini

Exact ca.

Distanţa oculară

Tipul Siedentopf, interval de reglare

Numărul de locuri de vedere

24

Inclinare

0° până la 20°

Rata de trecere

50/50

100/0 sau 0/100

50/50

100/0 sau 0/100

Obiectiv tubular

Filtre cu raze laser integrate

Aplicare laser

1×

2×zoom

1×

Aplicare laser

1064/532/355mm

532/355mm

Portul camerei

C-mount (cu opțiunea B pentru adaptator)

Utilizarea unui laser cu port TV

priză C-mount (cu comutator de conversie a filtrului verde)

Sistem de iluminat, opțional

Iluminare reflectantă a câmpului de vedere luminos (iluminat Kohler, cu diafragmă) Fibră optică 12V 100W, regulare fără luminozitate polară, lungime de conducere luminoasă: 1,5 m, consum de energie 150W

Obiectiv, opțional

M Plan Apo,M Plan Apo SL, G Plan Apo

Obiectiv, opțional

M/LCD Plan NIR

M/L CD Plan NUV

M Plan UV

Sarcină

14.5kg

13.6kg

14.1kg

13.2kg

14.5kg

13.6kg

14.1kg

13.2kg

Greutate (gazdă)

6.1kg

7.1kg

6.6kg

7.5kg

6.1kg

7.1kg

6.6kg

7.5kg

Seria 378 - Parametrii tehnici pentru microscopul FS-70 pentru detectarea semiconductorilor
Focalizare
Metoda: cu roți coarse și fine-tuning concentrice (stânga și dreapta)
Domeniul de măsurare: 50mm, coaxialitate concentrică 0.1mm / rev 3.8mm / rev
Imagine cu oglindă: exact
Distanța oculară: tip Siedentopf
Intervalul de reglare: 51-76mm
Numărul de locuri: 24
Anghiul de înclinare: 0°-20° (numai pentru -TH, modelele THS)
Sistem de iluminat: iluminat cu reflectie a câmpului vizual luminos (iluminat Kohler, cu diafragmă)
Sursa de lumină: 12V100W fibre optice, regularea luminozității fără polar), lungime de conducere luminoasă 1,5 m, consumul de putere de 150W
Obiective (opționale): M Plan Apo, M Plan Apo SL, G Plan Apo